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美国SCS 离子污染度

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    美国SCS OMEGAMETER SMD 650

                                                                                                                   

     

    鉴定存在于裸板、组装后的印刷电路板及其它电子部件的离子污染。
    提供了一种精确且可重复的现场测定清洁度的方法。
    提供了直接的过程控制结果,无需外部实验室测试。
    在涂敷及灌封应用之前验证表面清洁度。
    遵从目前工业的技术规范如ANSI/J-STD-001IPC-TM-650以及废除的军用标准如MIL-STD-2000A
    自包含式系统
    简单,界面友好的操作特性,包含计算机和显示器。
    阶梯式设计是测试样品的装载和取出更加容易。
    按照IPC-TM-650加热测试溶液改善污染物的溶解性。
    喷射嘴可以增加污染物的去除。
    自动处理识别测试的结束。
    专用的基于Windows的软件及触摸屏。
    无限的测试结果曲线储存及定制的名称。
    测试时间与污染量的对应图表。
    分类、过滤机回顾历史测试结果。
    全尺寸的PDF格式测试报告。
    密码保护使用者账号
    可选的 LAN 连接
    方便的USB接口用于外围设备如键盘、鼠标、打印机



    询价:美国SCS OMEGAMETER SMD 650
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